MeetsysteemASML
YieldStar S-200B
Meetsysteem
ASML
YieldStar S-200B
Bouwjaar
2011
Toestand
Gebruikt
Locatie
Dresden 

foto's tonen
Toon kaart
Machinegegevens
- Machinetype:
- Meetsysteem
- Producent:
- ASML
- Model:
- YieldStar S-200B
- Bouwjaar:
- 2011
- Toestand:
- uitstekend (gebruikt)
- functionaliteit:
- volledig functioneel
Prijs & locatie
- Locatie:
- Heilbronner Str. 22, 01189 Dresden, DE
Bellen
Details over het aanbod
- Advertentie-ID:
- A19967480
- Referentienummer:
- DV10125
- Laatste aanpassing:
- op 10.09.2025
Omschrijving
Optisch overlay-metrologiesysteem, Advanced Semiconductor Materials Lithography stand-alone overlay-metrologiesysteem voor 300 mm wafers, YieldStar S 200B
Model: S200B
Type: YieldStar
Bouwjaar: 2011
Hfedpfx Aexbnt Eoamen
Technische gegevens:
Waferformaat: 300 mm (12")
Laserbron: LPPS, watergekoeld
Algemeen:
Het YSS200B is een optisch overlay-meetsysteem dat wordt ingezet voor snelle en uiterst nauwkeurige meting van overlay-afwijkingen op 300 mm wafers – doorgaans gebruikt voor monitoring na het etsen ten behoeve van procesbeheersing binnen de productie als stand-alone systeem.
De advertentie werd automatisch vertaald. Vertaalfouten zijn mogelijk.
Model: S200B
Type: YieldStar
Bouwjaar: 2011
Hfedpfx Aexbnt Eoamen
Technische gegevens:
Waferformaat: 300 mm (12")
Laserbron: LPPS, watergekoeld
Algemeen:
Het YSS200B is een optisch overlay-meetsysteem dat wordt ingezet voor snelle en uiterst nauwkeurige meting van overlay-afwijkingen op 300 mm wafers – doorgaans gebruikt voor monitoring na het etsen ten behoeve van procesbeheersing binnen de productie als stand-alone systeem.
De advertentie werd automatisch vertaald. Vertaalfouten zijn mogelijk.
Documenten
Aanbieder
Opmerking: Registreer gratis of log in, om alle informatie te bekijken.
Telefoon & Fax
+49 351 8... weergeven
Uw advertentie is succesvol verwijderd
Er is een fout opgetreden