Component

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Bouwjaar: 2025, Toestand: nieuw, Röntgeninspectiesysteem voor middelgrote verpakkingen en zakken. Geschikt voor het detecteren van vreemde voorwerpen van metaal, glas, steen, kunststof, enz. in levensmiddelen en niet-levensmiddelen. - Specificaties: Breedte transportband: 410 mm; Detectienauwkeurigheid: Pb vanaf Ø 0,2 mm, Fe vanaf Ø 0,28 mm, SUS vanaf Ø 0,28 mm, niet-metalen zoals steen, glas, vanaf Ø 1,2 mm; Röntgenvermogen: 80 kVp, 1,25 mA; Detectorresolutie: 0,4 mm; Röntgenstraling: < 1usv/u; Transportbandhoogte: 850 ± 30 mm; Transportbandsnelheid (afhankelijk van het product): 10 – 100 m/min; Gebruikersinterface: 15" touchscreen; Software: intellisens®X-ray; Bedrijfstemperatuur: 5 – 35 °C; Uitwerpsysteem: optioneel verkrijgbaar volgens de vereisten; Voeding: 220VAC, 50/60Hz; Systeemafmetingen: L900xB920xH1825 mm; Gewicht: 350 kg. Nsdpev Nm Injfx Ab Docl Houd er rekening mee dat onze nieuwe prijzen vaak lager zijn dan de gebruikelijke prijzen. Stel gerust uw vraag en vertel ons uw verpakkingsopdracht. - Meestal zijn er 30-50 verschillende nieuwe machines direct uit voorraad leverbaar. Bovendien hanteren wij zeer korte levertijden van circa 3 weken voor machines die op klantspecificatie worden vervaardigd. - Alle machines zijn leverbaar met volledige garantie.

Toestand: defecte reserveonderdelenhouder (gebruikt), Oxford Instruments X-Strata 960 Röntgenfluorescentie-analyser – Onderdonorgever / defect Artikelomschrijving: Te koop aangeboden wordt een gebruikte röntgenfluorescentie-analyseapparaat van het type Oxford Instruments X-Strata 960. Het apparaat is afkomstig uit een laboratoriumontmanteling en wordt uitsluitend aangeboden als onderdelenleverancier of voor reparatiedoeleinden. Het functioneren van het apparaat is niet getest – daarom wordt het apparaat als defect verkocht. Technische gegevens – Oxford Instruments X-Strata 960 (niet-bindend) Kenmerk Omschrijving Model X-Strata 960 Fabrikant Oxford Instruments Analysemethode Röntgenfluorescentieanalyse (XRF) Toepassingsgebieden Laagdiktemeting, materiaalonderzoek, edelmetaalcontrole Meetgeometrie Boven- of onderstralend, afhankelijk van de configuratie Stralingsbron Röntgenbuis (bijv. rhodium-anode), 50–100 W vermogen Detector Proportionele teller of silicium-drift-detector (SDD), afhankelijk van uitvoering Meetbereik Laagdikte ca. 0,005 – 50 µm (afhankelijk van materiaal) Spotgrootte ca. 15 μm – 1 mm (afhankelijk van collimator) Z-as Gemotoriseerd verplaatsbaar, tot ca. 230 mm meethoogte Monsterkamer (B × D × H) ca. 580 × 510 × 230 mm Monsterhouder Handmatig of gemotoriseerd (200 × 200 mm of groter, afhankelijk van uitrusting) Focussysteem Optisch / laserfocus, deels automatisch Besturingssysteem Geïntegreerde industriële PC met Windows-gebaseerde evaluatiesoftware Stroomvoorziening 220–240 V / 50–60 Hz / ca. 500–800 W Apparaatgewicht ca. 150–200 kg (afhankelijk van uitvoering) Toestand: gebruikt / defect / als onderdelengever Leveringsomvang: volgens afbeeldingen – zonder accessoires of software Belangrijke opmerkingen: Verkoop uitdrukkelijk als defect apparaat zonder functionele garantie. Het artikel wordt aangeboden als onderdelenleverancier of voor hobbyisten. Geen garantie op werking, volledigheid of technische parameters. Zakelijke verkoop onder uitsluiting van elke aansprakelijkheid voor materiële gebreken, volgens § 447 BGB (verzending). Leveringsomvang: - Oxford Instruments X-Strata 960 - Alle componenten zichtbaar op de foto's - Verdere onderdelen, accessoires of documentatie zijn niet inbegrepen, tenzij expliciet vermeld. Njdpfx Abshaapfj Dscl Verzending & Afhalen: Afhalen mogelijk en bij voorkeur te Borken. Verzending in overleg mogelijk. (Wijzigingen en fouten in de technische gegevens en specificaties voorbehouden!) Voor verdere vragen kunt u ons gerust telefonisch contacteren.

Bouwjaar: 2016, Toestand: uitstekend (gebruikt), Automatische röntgeninspectie Voor de inspectie van BGA, QFN, THT, LED, LGA en andere soldeerverbindingen, zowel zichtbaar als verborgen. Nedpowpuadjfx Ab Docl Overige kenmerken: Inclusief offline station en reparatiestation Besturingssysteem: Windows 7 Ultrasnelle lijnscan CCD-detectoren Inspectiegebied: 450 mm - 400 mm Beeldacquisitie: 2D, 2,5D, 3D (slice images met planaire CT) Afmetingen printplaat: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-resolutie: 6 - 30 µm / px AOI: Camerabeeldveld: 42 mm x 42 mm Resolutie: 21 µm Inspectiehoogte: -3 tot 7,5 mm Optiek: telecentrisch Transporthoogte: 950 mm +/- 25 mm Interface: SMEMA Breedte-instelling: automatisch

Bouwjaar: 2016, Toestand: direct inzetbaar (gebruikt), Er is een nieuw röntgeninspectiesysteem van Anritsu beschikbaar. Röntgenvermogen: 100 W, max. detectiebreedte: 240 mm, max. detectiehoogte: 120 mm, detectiesnelheid van 2 kg tot 5 kg: 10 m-60 m/min, detectiesnelheid tot 2 kg: 60 m-90 m/min, detectiesnelheid van 5 kg tot 10 kg: 10 m-40 m/min, behuizingmateriaal: roestvrij staal, gewicht van de machine: ca. 255 kg, bedrijfsuren: minder dan 50 uur. Er is geen sprake van slijtage aan de transportband of de stralingsbeschermingsgordijnen. Documentatie beschikbaar. Een inspectie ter plaatse is mogelijk. Nedpfx Abevzr Aue Djcl

Toestand: gebruikt, PANalytical X’Pert PRO MPD röntgendiffractiometer (XRD) Uittreksel uit het servicerapport: Apparaat: PANalytical X’Pert PRO MPD Opgesteld op: 07-07-2021 Uitgevoerde werkzaamheden: - Herinstallatie en inbedrijfstelling van het systeem - Aansluiting van externe voedingsleidingen - Opwarmfase - Complete afstelling van goniometer en andere componenten - Uitvoering van onderhoud, inclusief vervanging van defecte onderdelen Gebruikte reserveonderdelen: L 3.6V NC/U3 R15.0x52.0 BATTERIJ. NI-CD VENTILATOR VOOR X-CELERATOR UNIT FILTER, WATER Motor PW3050 ("Apparaat is niet door ons in huis getest") Het X’Pert PRO MPD is een zeer veelzijdig en krachtig röntgendiffractiometer (XRD) voor de structurele karakterisering van kristallijne materialen – ideaal voor zowel fundamenteel onderzoek als routine-toepassingen in industrie en universiteit. Dankzij de modulaire opbouw, snelle detectie, temperatuur- en atmosfereregeling is het uitstekend geschikt voor zowel routinematige analyses als complexe in-situ-experimenten. Ncedpjwycatsfx Ab Dsl Belangrijke kenmerken: - Verschillende meetgeometrieën mogelijk: - Reflectie in Bragg-Brentano (θ–2θ)-modus - Transmissiegeometrie voor poeders in capillairen - Optioneel ook SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) voor nanostructuren - Stralingsbron en detectoren: - Meestal koperen anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - X’Celerator-detector (1D, ultrasnel) voor parallelle gegevensverzameling - Modulair systeem met PreFIX-technologie: - Snel wisselen van optica en monsterhouders zonder herkalibratie - In-situ metingen bij hoge temperaturen tot ca. 1200°C - Gereguleerde atmosfeer: lucht, stikstof, zuurstof (beperkt reducerend) Typische toepassingen: - Fasenanalyse en kwantitatieve Rietveld-evaluatie - Bepaling van kristallietgrootte, microdeformatie, intrinsieke spanningen - In-situ-onderzoek van faseovergangen, oxidatie, kristallisatie, enz. - SAXS-metingen voor analyse van nanodeeltjes, poriestructuren - Breed monsterspectrum: poeders, dunne lagen, keramiek, farmaceutica, katalysatoren, enz. Technische gegevens (typisch) Eigenschap en specificatie: - Hoekbereik (2θ): ca. 0,5° – 150° - Stapgrootte tot 0,002° of fijner - Goniometer verticaal, 0–0, radius ca. 240 mm - Temperatuurbereik: kamertemperatuur tot ca. 1200 °C - Atmosfeer: lucht, N₂, O₂ (beperkt reducerend) - Detectoren: X’Celerator (1D), proportioneel telbuis Verspreiding & toepassingsgebieden: Het X’Pert PRO MPD wordt wereldwijd gebruikt, o.a. bij: - Universiteiten (ETH Zürich, TU Dresden, Universiteit Wenen) - Onderzoeksinstituten (bijv. Max-Planck-Instituten, ICN2, IS2M) - Industrie (bijv. materiaalontwikkeling, farmacie, chemie) Staat: gebruikt Leveringsomvang: (zie foto) (Wijzigingen en vergissingen in de technische gegevens voorbehouden!) Voor verdere vragen kunt u ons telefonisch bereiken.

Toestand: goed (gebruikt), Helmut Fischer Fischerscope röntgenfluorescentie laagdiktemeting XDL-XYmZ Ncsdjw Hbkdjpfx Ab Dol