Contour- en oppervlaktemeetsysteemChotest
SJ5760
Contour- en oppervlaktemeetsysteem
Chotest
SJ5760
EXW Vaste prijs zonder BTW
€ 18.900
Bouwjaar
2024
Toestand
Tentoonstellingsmachine
Locatie
Leonberg 

foto's tonen
Toon kaart
Machinegegevens
- Machinetype:
- Contour- en oppervlaktemeetsysteem
- Producent:
- Chotest
- Model:
- SJ5760
- Bouwjaar:
- 2024
- Toestand:
- zo goed als nieuw (tentoonstellingsmachine)
- Bedrijfsuren:
- 15 h
Prijs & locatie
EXW Vaste prijs zonder BTW
€ 18.900
- Locatie:
- Mühlstraße 41, 71229 Leonberg, Deutschland

Bellen
Details over het aanbod
- Advertentie-ID:
- A20678575
- Laatste aanpassing:
- op 04.12.2025
Omschrijving
Precies profielmeetinstrument | Zeer goede staat | Direct inzetbaar
Te koop aangeboden: een Chotest SJ-5760P, een hoogprecies contourmeetapparaat voor geometrische profielanalyse binnen kwaliteitsmanagement, gereedschapsbouw, machinebouw en onderzoek. Het apparaat levert uiterst nauwkeurige metingen met veel bewegingsvrijheid dankzij de stabiele granieten basis.
⸻
Staat
• Gebruikt, technisch gecontroleerd
• Volledig functioneel
• Zeer goed onderhouden staat
⸻
Technische hoogtepunten – Chotest SJ-5760P
Verplaatsingsbereiken
• X-as: 0–200 mm
• Z-as: 0–450 mm
• Afmetingen apparaat: 800 × 450 × 1100 mm
• Gewicht: 220 kg
⸻
Profielmeting (SJ-5760P)
• Meetbereik Z1: ±25 mm
• Resolutie: 0,001 µm
• Meetrichting: Top / Down
• Meetsnelheid: 0,05–5 mm/s
Codpfxox Db Sts Adysaa
• Positioneersnelheid: X/Z tot 20 mm/s
• Meetkracht: 10–150 mN, instelbaar
• Leidingsafwijking: ≤1 µm / 200 mm
Nauwkeurigheid
• X-weergavefout: ±(0,5 + 0,015L) µm
• Z1-weergavefout: ±(0,5 + 0,05H) µm
• Afstand: ±(0,8 + 0,02L) µm
• Straal: ≤(1 + R/15) µm
• Hoek: ≤±45’’
⸻
Bijzonderheden van het apparaat
• Ideaal voor nauwkeurige contour- en profielmetingen
• Uiterst hoge verticale resolutie (0,001 µm)
• Zeer stabiele granieten basis voor trillingsarm meten
• Grote verplaatsingswegen voor diverse componentgeometrieën
• Gebruiksvriendelijke en betrouwbare meettechniek
• Geschikt voor micrometer-nauwkeurige vormmeting in laboratorium en productie
De advertentie werd automatisch vertaald. Vertaalfouten zijn mogelijk.
Te koop aangeboden: een Chotest SJ-5760P, een hoogprecies contourmeetapparaat voor geometrische profielanalyse binnen kwaliteitsmanagement, gereedschapsbouw, machinebouw en onderzoek. Het apparaat levert uiterst nauwkeurige metingen met veel bewegingsvrijheid dankzij de stabiele granieten basis.
⸻
Staat
• Gebruikt, technisch gecontroleerd
• Volledig functioneel
• Zeer goed onderhouden staat
⸻
Technische hoogtepunten – Chotest SJ-5760P
Verplaatsingsbereiken
• X-as: 0–200 mm
• Z-as: 0–450 mm
• Afmetingen apparaat: 800 × 450 × 1100 mm
• Gewicht: 220 kg
⸻
Profielmeting (SJ-5760P)
• Meetbereik Z1: ±25 mm
• Resolutie: 0,001 µm
• Meetrichting: Top / Down
• Meetsnelheid: 0,05–5 mm/s
Codpfxox Db Sts Adysaa
• Positioneersnelheid: X/Z tot 20 mm/s
• Meetkracht: 10–150 mN, instelbaar
• Leidingsafwijking: ≤1 µm / 200 mm
Nauwkeurigheid
• X-weergavefout: ±(0,5 + 0,015L) µm
• Z1-weergavefout: ±(0,5 + 0,05H) µm
• Afstand: ±(0,8 + 0,02L) µm
• Straal: ≤(1 + R/15) µm
• Hoek: ≤±45’’
⸻
Bijzonderheden van het apparaat
• Ideaal voor nauwkeurige contour- en profielmetingen
• Uiterst hoge verticale resolutie (0,001 µm)
• Zeer stabiele granieten basis voor trillingsarm meten
• Grote verplaatsingswegen voor diverse componentgeometrieën
• Gebruiksvriendelijke en betrouwbare meettechniek
• Geschikt voor micrometer-nauwkeurige vormmeting in laboratorium en productie
De advertentie werd automatisch vertaald. Vertaalfouten zijn mogelijk.
Documenten
Aanbieder
Opmerking: Registreer gratis of log in, om alle informatie te bekijken.
Geregistreerd sinds: 2023
Aanvraag sturen
Telefoon & Fax
+49 7152 ... weergeven
Uw advertentie is succesvol verwijderd
Er is een fout opgetreden








