Chotest Sj5760 tweedehands te koop (1)
Resultaten sorteren
- Laagste prijs Hoogste prijs
- De nieuwste advertenties Oudste advertenties
- Kortste afstand Verste afstand
- Nieuwste bouwjaar Oudste bouwjaar
- Laatste update Oudste update
- Fabrikant A tot Z Fabrikant Z naar A
- Relevantie
- Laagste prijs
- Prijs
- Hoogste prijs
- Prijs
- De nieuwste advertenties
- Datum van plaatsing
- Oudste advertenties
- Datum van plaatsing
- Kortste afstand
- afstand
- Verste afstand
- afstand
- Nieuwste bouwjaar
- Bouwjaar
- Oudste bouwjaar
- Bouwjaar
- Laatste update
- Laatste aanpassing
- Oudste update
- Laatste aanpassing
- Fabrikant A tot Z
- Producent
- Fabrikant Z naar A
- Producent
- Benaming van A tot Z
- Benaming
- Bezeichnung van Z naar A
- Benaming
- Model van A tot Z
- Model
- Model van Z naar A
- Model
- Laagste referentie
- referentie
- Hoogste referentie
- referentie
- Kortste looptijd
- Looptijd
- Langste bedrijfstijd
- Looptijd
- Relevantie
- Relevantie
Geslaagd:
Uw bericht is verzonden.
Advertentie
Leonberg
455 km
Contour- en oppervlaktemeetsysteem
ChotestSJ5760
Bellen
Toestand: zo goed als nieuw (tentoonstellingsmachine), Bouwjaar: 2024, bedrijfsturen: 15 h, Precies profielmeetinstrument | Zeer goede staat | Direct inzetbaar
Te koop aangeboden: een Chotest SJ-5760P, een hoogprecies contourmeetapparaat voor geometrische profielanalyse binnen kwaliteitsmanagement, gereedschapsbouw, machinebouw en onderzoek. Het apparaat levert uiterst nauwkeurige metingen met veel bewegingsvrijheid dankzij de stabiele granieten basis.
⸻
Staat
• Gebruikt, technisch gecontroleerd
• Volledig functioneel
• Zeer goed onderhouden staat
⸻
Technische hoogtepunten – Chotest SJ-5760P
Verplaatsingsbereiken
• X-as: 0–200 mm
• Z-as: 0–450 mm
• Afmetingen apparaat: 800 × 450 × 1100 mm
• Gewicht: 220 kg
⸻
Profielmeting (SJ-5760P)
• Meetbereik Z1: ±25 mm
• Resolutie: 0,001 µm
• Meetrichting: Top / Down
• Meetsnelheid: 0,05–5 mm/s
• Positioneersnelheid: X/Z tot 20 mm/s
• Meetkracht: 10–150 mN, instelbaar
• Leidingsafwijking: ≤1 µm / 200 mm
Gkjdjx Db Stjpfx Af Esc
Nauwkeurigheid
• X-weergavefout: ±(0,5 + 0,015L) µm
• Z1-weergavefout: ±(0,5 + 0,05H) µm
• Afstand: ±(0,8 + 0,02L) µm
• Straal: ≤(1 + R/15) µm
• Hoek: ≤±45’’
⸻
Bijzonderheden van het apparaat
• Ideaal voor nauwkeurige contour- en profielmetingen
• Uiterst hoge verticale resolutie (0,001 µm)
• Zeer stabiele granieten basis voor trillingsarm meten
• Grote verplaatsingswegen voor diverse componentgeometrieën
• Gebruiksvriendelijke en betrouwbare meettechniek
• Geschikt voor micrometer-nauwkeurige vormmeting in laboratorium en productie
Wij maken het zoeken voor u gemakkelijker: "chotest sj5760"
U ontvangt direct en gratis nieuwe aanbiedingen per e-mail
U kunt de zoekopdracht te allen tijde eenvoudig beëindigen





